粉体材料工艺学

判断粉体结晶度的常见方法包括X射线衍射法红外光谱法差示扫描量热法密度法广角X射线散射法等，各类方法适配不同的粉体样品类型与检测精度需求1 X射线衍射法XRD是应用最广泛的结晶度检测方法，通过采集粉体的X射线衍射图谱，对比结晶相特征衍射峰与无定形相弥散峰的强度面积占比计。

粉末细度检测与粉体颗粒大小检测是材料科学化工制药等多个领域中至关重要的环节目前，用于超细粉体。

而以D90粒径为标准，粉体材料可以提升到6微米或2000目如果以D50粒径为标准，则粉体材料的等级可以跃升至28微米或4500目由此可见，选择不同的累积分布数据来表示粒度指标，可以得到显著不同的结果举个例子，假设有一批超细粉体，其检测数据如下图所示根据粒度分布表，最大粒径约为296微米。

粉末XRD测试输出样品的物相组成晶格参数晶粒尺寸结晶度等信息，用于矿物鉴定催化剂活性相分析粉体材料质量检测等场景4 设备与测试流程差异X射线应力检测仪专用小型衍射设备，采用定点聚焦扫描，测试区域直径通常1~5mm，单次仅检测单条晶面的衍射峰偏移量粉末X射线衍射仪通用型大型衍射。